赤外線サーモグラフィによる材料表面欠陥の検出に関する研究

石井 敏満; 岡本 芳三*; 衛藤 基邦; 大岡 紀一; 星屋 泰二

第2回サーモグラフィによる非破壊評価技術シンポジウム講演論文集, p.85 - 91, 1998/00

赤外線サーモグラフィを用いて、材料や構造物の表面きずを遠隔かつ非接触で非破壊的に検出する手法が注目されている。この手法では、試験対象物とその周囲空間の温度に差を与えた場合に、空洞放射効果によりきず部に生じる放射温度上昇を検出してきずを識別する。しかしながら、放射温度や放射率等の熱放射に関連した特性値は材料等の表面状態に起因して変化するため予め評価することが重要となる。本研究では、表面粗さの異なる原子炉用黒鉛IG-110とPGXについて上述の特性値の評価を行い、特に、表面の粗い黒鉛ほど材料表面の放射温度のばらつきが大きくなり、このばらつきがきず識別に影響を及ぼすことが分かった。また、上記黒鉛試料に加工した各種寸法のきずの検出試験を行い、きずの直径が大きいほど、そして深い傷ほど、識別に必要となる試験片とその周囲空間との温度差を大きくする必要があることが分かった。